Einfach, flexibel und leistungsstark sollen Mess- und Prüfsysteme komplexe Daten erst erfassen, dann analysieren: Zahlreiche Lösungsansätze und Produktneuheiten stellten National Instruments (NI) und Partnerfirmen beim 15. Technologie- und Anwenderkongress «Virtuelle Instrumente in der Praxis» VIP 2010 vor.
