Eine Publikation der Swissprofessionalmedia AG
Ausgabe 11/2011, 04.11.2011

Komplettsystem für quantitative Partikelanalyse

(re) Für die quantitative Sauberkeitsanalyse von Hochleistungsbauteilen bietet Leica Microsystems das Komplettsystem Leica Cleanliness Expert. Es besteht aus einem vollautomatisierten Auflichtmikroskop, einer Digitalkamera sowie einem Bildanalysesystem. Da sowohl Länge und Breite als auch die Höhe der Partikel funktionskritische Parameter sein können, bietet das System diese zusätzliche Dimension als Messgrösse. Der Vorteil: Mehr Sicherheit in der Bestimmung der Bauteilsauberkeit. Fasern und Partikel werden im Live-Bild detektiert und können in «reflektierend» und «nicht-reflektierend» unterschieden werden. Messparameter und Systemeinstellungen sind vollständig reproduzierbar. Alle Veränderungen werden automatisch im Report dokumentiert. Ein Scanning-Algorithmus erlaubt es, Partikel in beliebiger Grösse zu detektieren, in der Ergebnisliste zu reklassifizieren und zu dokumentieren.
www.leica-microsystems.com